Saltar al contingut principal

90319020 — Components i accessoris d'aparells de la subpartida 90314100 o per instruments i aparells, òptics, de mesura de les impureses de material de partícules a la superfície dels discos semiconductors de les subpartides 90314900 o 90314910, excepte els instruments, aparells i màquines de mesura o control de la subpartida 903180, destinats a aeronaus civils